在车规级芯片可靠性测试方面，广东宏展 LabCompanion 三箱式高低温冲击测试机区别于传统点点网页登录，具备优异的温度交变性能；可实时监测待测元件真实温度，动态调控箱内环境温度；搭配定点测试工装后，可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一个单颗 IC，独立开展高低温冲击测试，不影响周边其它器件。

车规级芯片高低温测试案例： 广东宏展合作客户为国内知名半导体芯片设计公司，自主设计研发国产车载芯片，要求测试区间 -50℃~150℃，搭配模拟和混合信号测试仪，在通电工况下核查不同温度区间元器件与模块各项功能是否正常。经宏展技术方案推荐，客户选用 LabCompanion TS-180 高低温冲击测试机；标准温度范围：-40℃ ~ +150℃，拓展温区可达 - 60℃~+150℃，温度精度 ±1.0℃。通过使用该设备，大幅提升研发工作效率，可及时评估研发过程潜在隐患，助力产品满足汽车an全电子产品标准。

车规级芯片高低温测试方法

1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上，将 LabCompanion 设备测温探头对应布置于产品待测区域；

2. 设置所需执行的温度区间、冲击转换时间、循环次数、高低温驻留时长；

3. 启动 TS-180 高低温冲击测试机，设备二元复叠制冷系统自动完成冷区、热区温度管控，冷热区自动切换完成温度冲击，内置温度传感器持续监控箱内工况温度，支持外接 K/T 热电偶采集试样表面真实温度；

4. 在汽车电子芯片测试平台协同运行下，TS-180 快速升降至设定工况温度，实时采集芯片在对应温度、通电工作状态下各项参数，为产品分析、工艺改良、批次定向品质治理提供详实的数据依据。

广东宏展 LabCompanion 系列高低温冲击试验机，极限冲击温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，无需 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准；整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。LabCompanion 设备适用于 RF 射频，微波，电子元器件，功率器件，通信芯片、车规半导体等温度可靠性测试，满足芯片特性验证和故障分析需求。

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