闪存 (Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需要电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、物联网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相机、蓝牙、GPS、工业电子等等。

闪存温度测试原因

为确保闪存可在极端温度环境（例如：油气勘探、重工业以及航空领域）可正常实现稳健的闪存读 / 写操作功能，因此在出厂前需要进行温度可靠性测试。广东宏展 Lab Companion 温度循环试验机拥有宽广可控温区，标准区间-40℃ ~ +120℃，拓展机型可达 - 60℃ ~ +150℃，温变速率 5～25℃/min 线性可调，温控精度 ±1.0℃等优势，广泛应用于闪存制造行业。广东宏展作为 Lab Companion 品牌原厂，全权负责产品研发制造、新品销售和售后维修服务。

闪存温度测试方法

通过与爱德万 (Advantest) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，Lab Companion 温度循环试验机支持两种温度操作模式：程式循环模式及 DUT mode 试样测温模式。

闪存大多采用 DUT mode 即 Device under test 模式来进行高低温循环测试，将闪存与试验机外接 T type 热电偶相互连接，如此即可精que掌控被测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体 eMMC 温度测试。 Lab Companion 温度循环试验机可与爱德万 Advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用，开展闪存芯片高低温循环可靠性测试。

广东宏展 Lab Companion 系列温度循环试验机，极限拓展温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。Lab Companion 设备适用于 RF 射频，微波，电子，功率器件，通信存储芯片等温度可靠性测试，满足芯片特性和故障分析的需求。

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