广东宏展 LabCompanion 温度循环测试机，适用于不同封装尺寸的光通信芯片及各类器件可靠性测试，例如光发射模块、光接收组件、存储芯片、MCU 芯片等。LabCompanion 设备箱体容积选择丰富，可提供稳定、温度均匀的高低温交变测试环境。
LabCompanion 为光模块高低温可靠性验证提供完整解决方案
1. 样品准备：将待测光模块安装于专用测试载具 / 治具上
2. 温区设置：使用 LabCompanion 温度循环试验机，按照规范设定光模块测试温度区间，例如 0℃、40℃和 70℃，也可依据客户需求自定义高低温区间
3. 带电测试：模拟光模块不同工况通电运行
4. 同步测试：配合光电测试设备，完成灵敏度、光功率等参数采集，评估光模块在极限温变下的性能指标
5. 数据分析：对测试结果汇总分析，验证光模块在不同温度与循环条件下的性能是否满足设计要求
LabCompanion 温度循环测试机 VS 传统普通温度循环试验机
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项目
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LabCompanion TS 系列温度循环测试机
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传统普通高低温循环试验箱
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温度区间
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-60℃ ~ +150℃
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常规大多仅 - 40℃~+120℃，难以满足宽温域芯片验证
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温变速率
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5～25℃/min 线性可调，支持程序自定义升降温斜率
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升降温速率普遍≤3℃/min，交变速度慢，测试周期长
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温度精度
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温度精度 ±1.0℃，温度均匀性优xui，支持 CNAS 计量溯源
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箱内温差较大，均匀性较差，长时间循环易出现温漂
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试样 DUT 测温
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支持外接 T/K 型热电偶，直接采集芯片 / 模块表面真实温度
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仅采集箱内空气温度，无法监测器件本体实际温度
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冷热冲击功能
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三箱式结构，冷热区独立蓄温，冲击切换时间≤12s，兼具温度循环 + 温度冲击两用功能
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仅具备缓慢温度循环，无法实现快速冷热冲击试验
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控制系统
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多段可编程程式，可设置循环次数、驻留时间、斜率，支持断电续测
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程序功能简单，分段数量少，复杂循环工况难以实现
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通讯接口
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标配 Ethernet、IEEE 488、RS232，可对接自动化测试平台 Loadboard
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通讯接口单一，很难和半导体测试系统联动
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制冷系统
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二元复叠式风冷制冷系统，连续长时间运行稳定，无需 LN₂辅助冷却
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单级制冷，低温工况负载能力弱，长时间连续循环易升温漂移
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防静电设计
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整机防静电工业结构，适配半导体、光电器件敏感元器件测试
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基础机型一般无专业防静电构造，容易产生静电损伤样品
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LabCompanion 系列机型拥有完善的温度控制解决方案，方便客户直接在实验室及产线工作台开展光模块、电路板等可靠性验证；丰富的程序编辑功能支持多段循环设定，控温精准稳定，最大程度减少环境波动对测试结果的干扰。
广东宏展 LabCompanion 系列温度冲击试验机，温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。LabCompanion 设备适用于 RF 射频，微波，光通信器件，功率器件，通信芯片等温度可靠性测试，满足元器件特性验证和故障分析的需求。
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