应用于人工智能、新能源、充电桩、电动汽车等领域的 SiC 碳化硅功率器件是新一代宽禁带半导体器件，具备耐高温、高频、高压等优异特性。为确保 SiC 碳化硅功率器件性能稳定可靠，需要开展全mian的温度可靠性测试分析。广东宏展 LabCompanion 温度循环测试机提供完整温度测试解决方案，为 SiC 碳化硅功率器件研发赋能。
SiC 碳化硅功率器件的温度测试主要包含以下几个方案：
1. 静态测试：静态测试一般涵盖正向特性、击穿、泄漏电流等方面测试。温度测试用于评估 SiC 碳化硅器件在高低温、温变环境下的工作稳定性，验证器件在各类温度环境下稳定运行。
2. 可靠性测试：可靠性测试主要包含老化测试、温度循环测试和冷热冲击测试等项目，依据 AEC-Q101、AQG-324、JEDEC JESD 等标准。设备能够满足从低温交变偏置 HTGB、高温反向偏置 HTRB、温度循环 TC、功率循环 PC 以及高压 H3TRB 等多种测试类型，评估 SiC 碳化硅器件的性能稳定性。温度循环测试用于模拟 SiC 碳化硅功率器件在不同温度下的工作情况，评估其温度变化环境下的稳定特性。
3. 疲劳能力测试：疲劳能力测试主要依托循环测试、冲击测试和极限温度试验等方案，检测温度载荷下器件参数与物理强度的稳定性，对 SiC 碳化硅器件执行高低温冲击试验，确保其极限温度环境下的耐受性。
广东宏展 LabCompanion 温度循环设备可搭载市面上主流半导体参数分析仪，完成宽温区间下的各类测试。通过对 SiC 碳化硅功率器件的关键性能进行**测试与分析，摸清器件的性能和限度，这也为 SiC 器件的研发和改进提供重要的数据支撑。 LabCompanion 设备可方便搭配 Advantest、Semilab、泰瑞达 teradyne、安捷伦 agilent、是德 Keysight 等仪器，执行 SiC 碳化硅功率器件温度冲击测试 Thermal shock 和温度循环测试 Thermal cycle。
LabCompanion TS 系列温度循环测试机参数参考
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参数项目
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TS-34L
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TS-64L
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TS-180L
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TS-340L
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TS-600L
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TS-1000L
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机型结构
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三箱式冷热冲击试验机
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三箱式冷热冲击试验机
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三箱式冷热冲击试验机
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三箱式冷热冲击试验机
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三箱式冷热冲击试验机
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三箱式冷热冲击试验机
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工作室有效容积
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34L
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64L
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180L
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340L
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600L
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1000L
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标准工作温度范围
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-60 ℃ ~ +150 ℃
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-60 ℃ ~ +150 ℃
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-60 ℃ ~ +150 ℃
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-60 ℃ ~ +150 ℃
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-60 ℃ ~ +150 ℃
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-60 ℃ ~ +150 ℃
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制冷系统
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二元复叠式风冷制冷，无需LN₂/CO₂辅助制冷
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二元复叠式风冷制冷，无需LN₂/CO₂辅助制冷
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二元复叠式风冷制冷，无需LN₂/CO₂辅助制冷
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二元复叠式风冷制冷，无需 LN₂/CO₂辅助制冷
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二元复叠式风冷制冷，无需LN₂/CO₂辅助制冷
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二元复叠式风冷制冷，无需 LN₂/CO₂辅助制冷
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操作控制器
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7 寸彩色触控 Q8 智能控制系统
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7 寸彩色触控 Q8 智能控制系统
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10 寸彩色触控 Q8 智能控制系统
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10 寸彩色触控 Q8 智能控制系统
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10 寸彩色触控 Q8 智能控制系统
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10 寸彩色触控 Q8 智能控制系统
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循环风量
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变频可调循环风道
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变频可调循环风道
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变频可调循环风道
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变频可调循环风道
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变频可调循环风道
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变频可调循环风道
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温度显示分辨率
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0.1℃
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0.1℃
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0.1℃
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0.1℃
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0.1℃
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0.1℃
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整机控温精度
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±1.0℃（CNAS 计量校准）
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±1.0℃（CNAS 计量校准）
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±1.0℃（CNAS 计量校准）
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±1.0℃（CNAS 计量校准）
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±1.0℃（CNAS 计量校准）
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±1.0℃（CNAS 计量校准）
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广东宏展 LabCompanion 系列温度冲击试验机，温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。LabCompanion 设备适用于宽禁带半导体、SiC 碳化硅器件、IGBT、射频器件、功率模块、车载芯片等温度可靠性测试，满足元器件特性验证和故障分析的需求。
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