高低溫沖擊試驗箱/兩箱法溫度沖擊試驗箱/三箱法冷熱沖擊試驗箱用途：
HTC系列高低溫沖擊試驗箱根據試品使用的特殊性，分為兩箱式動態沖擊和一箱式靜態沖擊，本系列試驗箱既可作冷熱沖擊試驗，也可作單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛用于航空、航天、軍用單位、電子、IT行業等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等，同時可通過此試驗，進行產品的質量控制。
高低溫沖擊試驗箱/兩箱法溫度沖擊試驗箱/三箱法冷熱沖擊試驗箱主要特點:
HTC系列高低溫沖擊箱：
l 兩箱法：高低溫室轉換采用氣動控制，轉換時間短，溫度恢復時間短，溫變速度快，結構緊湊，體積小。
l 三箱法：測試樣品一直處于靜態，其溫度的轉換通過氣動系統打開（關閉）不同風門來實現，便于進行在線測試，測試樣品不受任何機械沖擊，使用可靠性高。
l 節能;最多可節省37%電能。
l 保護臭氧層。
l 縮短試驗時間
l 實現系統化；“導電電阻評價系統”在低溫、高溫循環環境下，可以連續測定焊接部和連接部的導體部分的微小電阻。
l 節省實驗室空間。
l 單計算機最多可同時監控16臺設備
l 可選配無紙、有紙記錄儀
l 可預留液氮接口
高低溫沖擊試驗箱/兩箱法溫度沖擊試驗箱/三箱法冷熱沖擊試驗箱型號規格及主要技術參數
| 序號 | 產品名稱 | 產品型號 | 工作室尺寸（mm） | 溫度范圍（℃） | 其它指標 | 執行/滿足標準 | 電源（50HZ） / 參考功率（KW） |
| 1 | 高低溫 沖擊試驗箱 (兩箱法) | HTC45-II | 350×400×400 | 低溫: -70~-10 高溫:50~200 溫度沖擊范圍: -40 ~ +120（+150） | 溫度波動度:≤±0.5 溫度均勻度:≤2 轉換時間:≤5S 恢復時間:≤5min | GB2423.22-89-Na GJB150.5-86 MIL-STD-810-503.2 | 380V /9.0 |
| 2 | HTC410-II | 450×500×500 | 380V /12.5 |
| 3 | HTC430-II | 600×700×700 | 380V /20.5 |
| 4 | HTC450-II | 750×800×800 | 380V/26.0 |
| 5 | HTC4100-II | 1000×1000×1000 | 380V/32.5 |
| 6 | HTC55-II | 350×400×400 | 低溫: -75~-10 高溫:50~200 溫度沖擊范圍: -55 ~ +120（+150） | 380V /15.0 |
| 7 | HTC510-II | 450×500×500 | 380V /18.5 |
| 8 | HTC530-II | 600×700×700 | 380V /26.5 |
| 9 | HTC550-II | 750×800×800 | 380V/32.0 |
| 10 | HTC5100-II | 1000×1000×1000 | 380V/38.5 |
| HTC65-II | 350×400×400 | 低溫: -75~-10 高溫:50~200 溫度沖擊范圍: -65 ~ +120（+150） |
| HTC610-II | 450×500×500 |
| HTC630-II | 600×700×700 |
| 11 | 高低溫 沖擊試驗箱 (三箱法) | HTC45-Ⅲ | 400×350×400 | 溫度范圍:-70~+200 溫度沖擊范圍: -40~+120（+150） | 溫度波動度:≤±0.5 溫度均勻度:≤2 轉換時間:≤5S 恢復時間:≤5min | 380V /12.0 |
| 12 | HTC410-Ⅲ | 500×450×500 | 380V /16.5 |
| 13 | HTC430-Ⅲ | 700×600×700 | 380V /22.5 |
| 14 | HTC55-Ⅲ | 400×350×400 | 溫度范圍:-75~+200 溫度沖擊范圍: -55~+120（+150）
| 380V /16.0 |
| 15 | HTC510-Ⅲ | 500×450×500 | 380V /21.5 |
| 16 | HTC530-Ⅲ | 700×600×700 | 380V /29.5 |
| 17 | HTC550-Ⅲ | 800×800×800 | 380V /34.0 |
| 18 | HTC5100-Ⅲ(非標) | 1000×1000×1000 | 380V /56.0 |
| 19 | HTC5180-Ⅲ(非標) | 1200×1500×1000 | 380V /75.0 |
| 20 | HTC5210-Ⅲ(非標) | 1800×1200×1000 | 380V /92.0 |