taptap点点手机北京幫您整理環境應力篩選溫度變化溫度循環規范標準列表
應力篩選規范：
MIL-202C-106、107 電子及電器部件試驗方法標準
MIL-781 可靠性試驗方法手冊
HB/Z213 機載電子設備環境應力篩選指南
HB6206 機載電子設備環境應力篩選方法
JESD22-A109-A 器密試驗方法
TE000-AB-GTP-020 環境應力篩選要求與 海 軍電子設備應用
CFR-Title 47-Chapter I-68.302 美國聯邦通訊委員會環境模擬
GJB/Z34 電子產品定量環境應力篩選指南
HB/Z213 組件級環境應力篩選
溫度循環：
EC 68-2-14 溫度變化
MIL-STD-2164 電子設備環境應力篩選方法=GJB1032-1990
GJB1032-1990 電子設備環境應力篩選方法
DOD-HDBK-344 電子設備環境應力篩選=GJB/Z34-1993
NABMAT-9492 美軍 海 軍 製造篩選
JIS C5030 熱循環試驗
零件預燒試驗：
MIL-STD-883,Method 1008 預燒
MIL-STD-883,Method 1015 (IC類預燒)
MIL-STD-750,Method 1038 (二極體類預燒)
MIL-STD-750,Method1039 電晶體類預燒)
MIL-STD-883,Method 1010 溫度循環
MIL-M-38510 軍 用 微型電路的一般規格
MIL-S-19500 半導體器件要求和特點
系統預燒：
MIL-781 可靠性設計鑒定與生產接收試驗
MIL-810 美國軍標環境工程考慮和實驗室試驗