在芯片生產制造過程中，芯片通電工作時會產生一定熱量，為避免芯片溫度過高引發過載失效，通常需要開展耐高溫性能檢測。傳統試驗設備存在一定短板：升降溫速率有限，芯片測試結束后設備本體余熱較高，影響連續測試效率；同時難以對元器件實現精準、均勻控溫，容易造成測試數據離散、重復性差。 廣東宏展 LabCompanion 溫度循環測試機能夠快速構建穩定交變溫度環境，適合大批量溫度循環可靠性驗證，標準溫度區間 - 40℃ ~ +150℃，拓展機型可達 - 70℃ ~ +200℃，廣泛應用于網絡通信芯片行業。
LabCompanion 溫度循環測試機通信芯片高低溫沖擊測試案例
廣東宏展合作客戶為網絡通信芯片供應商，產品廣泛應用于網絡通訊市場，包括網絡設備、數據中心、存儲工業等。芯片溫度測試要求：-40℃~120℃或 - 55℃~125℃，并且在低溫 - 40℃或 - 55℃、常溫 25℃、高溫 125℃三個溫度區間持續 5~10 分鐘循環測試。經宏展技術方案推薦，選用 LabCompanion TS-180 溫度循環測試機，滿足通信芯片快速高低溫循環沖擊測試需求。
LabCompanion TS-180 溫度循環測試機主要技術參數
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型號：TS-180
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工作室容積：180L
溫度范圍 ℃：-40 ~ +150（50Hz），拓展溫區可達 - 70℃ ~ +200℃
變溫速率：5～25℃/min（線性可調）
溫度精度：±1.0℃，整機可溯源 CNAS 計量校準
溫度顯示分辨率：0.1℃
溫度傳感器：T 型或 K 型熱電偶（支持 DUT 試樣外接測溫）
結構設計：防靜電結構，搭載二元復疊式制冷系統，無需 LN₂或 CO₂輔助冷卻
遠程控制：Ethernet、IEEE 488、RS232
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與傳統普通高低溫試驗箱對比，LabCompanion 溫度循環測試機主要優勢：
1. 溫變速率優異，支持 5~25℃/min 線性可調，快速完成高低溫交變工況切換
2. 溫控精度：±1.0℃，箱內溫度均勻性良好
3. 實時監測待測元件真實溫度，可依據試樣測溫動態調整程序參數
4. 搭配專用測試工裝后，可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一個單 IC（模塊）單獨開展高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件
5. 適配測試機平臺 load board 上 IC 溫度循環 / 沖擊驗證；傳統普通高低溫箱很難實現此類針對性單點差異化測試
6. 可為整塊集成電路板提供穩定、準確且快速的高低溫模擬環境
廣東宏展 LabCompanion 系列溫度循環試驗機，極限拓展溫度范圍 -70 ℃ ~ +200 ℃，整機防靜電工業結構設計，搭載二元復疊式風冷制冷系統，不需要 LN₂或 CO₂輔助冷卻；溫度顯示精度：±0.5℃，計量可溯源 CNAS 校準，整機通過 ISO 9001、CE、RoHS 認證。LabCompanion 設備適用于 RF 射頻，微波，電子元器件，功率器件，通信芯片等溫度可靠性測試，滿足芯片特性驗證和故障分析的需求。
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