在電子、航空航天、通訊實體等行業中，對于使用的芯片有著嚴苛的要求，芯片在嚴苛環境中能否正常工作、可靠性如何，成為重要關注點。傳統驗證方法由于溫度變化速率慢、無法提供快速交變的溫度環境，很難滿足高標準的測試要求。廣東宏展 Lab Companion 溫度沖擊試驗機解決了傳統驗證方法短板，具備優異的快速高低溫交變沖擊能力。

TS-180 微處理器芯片測試解決方案

在開展微處理器芯片測試項目中，客戶要求測試溫度區間 -40℃ ~ 125℃，Lab Companion TS-180 溫度沖擊試驗機可完整滿足客戶測試需求。

廣東宏展 Lab Companion 溫度沖擊試驗機 TS-180 可搭配 delta design 測試機共同開展微處理器芯片測試，有效提升芯片測試效率與數據準確性，快速完成芯片通電工況下的電性能測試、失效分析、可靠性評估等工作。

微處理器芯片高低溫測試方法

1. 將待測微處理器芯片放置于專用測試治具腔體中

2. 操作人員在觸控屏幕設定所需執行的溫度區間、循環次數、高低溫駐留時長

3. 啟動 TS-180 溫度沖擊試驗機，設備搭載二元復疊式制冷系統獨立管控冷熱蓄溫區，冷熱氣流分區存儲、自動快速切換沖擊；內置溫度傳感器實時監測腔體內環境溫度，設備自帶完善過熱溫度保護系統，操作人員可根據實際需求設置高低溫極限控制點。

廣東宏展 Lab Companion 系列溫度沖擊試驗機，極限沖擊溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機防靜電工業結構設計，搭載二元復疊式風冷制冷系統，不需要 LN₂液氮或 CO₂輔助冷卻；溫度精度 ±1.0℃，溫度顯示精度：±0.5℃，計量可溯源 CNAS 校準，整機通過 ISO 9001、CE、RoHS 認證。Lab Companion 設備適用于 RF 射頻，微波，電子，功率器件，通訊芯片、微處理器芯片等溫度測試，滿足芯片特性和故障分析的需求。

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