在电子、航空航天、通讯实体等行业中，对于使用的芯片有着严苛的要求，芯片在严苛环境中能否正常工作、可靠性如何，成为重要关注点。传统验证方法由于温度变化速率慢、无法提供快速交变的温度环境，很难满足高标准的测试要求。广东宏展 Lab Companion 温度冲击试验机解决了传统验证方法短板，具备优异的快速高低温交变冲击能力。

TS-180 微处理器芯片测试解决方案

在开展微处理器芯片测试项目中，客户要求测试温度区间 -40℃ ~ 125℃，Lab Companion TS-180 温度冲击试验机可完整满足客户测试需求。

广东宏展 Lab Companion 温度冲击试验机 TS-180 可搭配 delta design 测试机共同开展微处理器芯片测试，有效提升芯片测试效率与数据准确性，快速完成芯片通电工况下的电性能测试、失效分析、可靠性评估等工作。

微处理器芯片高低温测试方法

1. 将待测微处理器芯片放置于专用测试治具腔体中

2. 操作人员在触控屏幕设定所需执行的温度区间、循环次数、高低温驻留时长

3. 启动 TS-180 温度冲击试验机，设备搭载二元复叠式制冷系统独立管控冷热蓄温区，冷热气流分区存储、自动快速切换冲击；内置温度传感器实时监测腔体内环境温度，设备自带完善过热温度保护系统，操作人员可根据实际需求设置高低温极限控制点。

广东宏展 Lab Companion 系列温度冲击试验机，极限冲击温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度精度 ±1.0℃，温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。Lab Companion 设备适用于 RF 射频，微波，电子，功率器件，通讯芯片、微处理器芯片等温度测试，满足芯片特性和故障分析的需求。

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