射频芯片 RF chip 主要为手机等移动终端设备提供无线电波信号的发送和接收，是进行蜂窝网络连接，Wi-Fi，蓝牙，GPS 等无线通信功能必需的核心模块。全球射频市场处在高速发展阶段，芯片和系统制造商需要相应可靠的测试系统，确保射频芯片性能和合规性。近日，国内某射频功率放大器制造企业选用广东宏展 Lab Companion TS-180 温度冲击试验机，给射频芯片构建 -60℃ ~ +150℃ 稳定交变温度环境，满足测试芯片性能验证要求。

广东宏展 Lab Companion 温度冲击试验机射频芯片高低温测试解决方案

Lab Companion 温度冲击试验机能够为射频芯片提供宽域高低温交变环境，开展可靠性验证测试。设备可在设定区间内实现快速温度切换，广泛应用于射频芯片测试领域；能够模拟射频芯片在各类极限工况环境下能否维持正常电平、频率稳定性。典型测试区间如 -40℃ ~ 80℃，模拟芯片持续射频发射模式下的运行状态。系统依照预设温度自动执行循环程序，采集芯片各项电气参数，完成可靠性评估。

Lab Companion TS-180 功能特点

温度范围：-60℃ ~ +150℃

温变速率：5～25℃/min 线性可调，冷热冲击转换时间 ≤12s 

温度精度：±1.0℃，整机计量可溯源 CNAS 校准

制冷系统：二元复叠式风冷制冷系统，制冷剂高效利用，无需液态氮气 LN₂或液态二氧化碳 LCO₂辅助冷却

试样测温：支持外接 T/K 型热电偶 DUT 测温，直接采集元器件表面真实温度

控制程序：大容量多段程式编辑，支持循环、驻留、斜率独立设置，具备断电续测、超限保护 整机防静电结构设计，适配射频、半导体敏感器件测试 内置完整压力、过载、超温多重an全保护机制

与传统普通点点网页登录对比，Lab Companion 温度冲击试验机主要优势：

1.温变速率更快，支持线性 5~25℃/min 自由设定

2.温控均匀性优xiu，箱内全域温度偏差小，保障批量样品测试一致性

3.支持 DUT 外接测温，实时监测待测元件真实温度，可依据试样温度调整程序逻辑

4.搭配定制测试工装后，可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一个 IC（模块）单独开展高低温冲击，而不影响周边其它器件

5.适配测试平台 load board 上 IC 温度循环 / 冲击验证；传统普通高低温箱很难实现此类针对性差异化测试

6.可对整块集成电路板提供稳定、准确且快速变化的高低温环境

7.冷热区独立蓄温结构，温度冲击与温度循环一机两用，满足多标准测试需求

广东宏展 Lab Companion 系列温度冲击试验机，极限拓展温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。Lab Companion 设备适用于 RF 射频，微波，电子元器件，功率器件，通信芯片等温度可靠性测试，满足芯片特性验证和故障分析的需求。

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