广东宏展 Lab Companion 温度冲击试验机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 等测试机联用，开展an全芯片高低温冲击测试。设备支持外接热电偶实时监测an全芯片本体真实温度，搭配定制测试工装，可针对测试平台 load board 上的an全芯片开展快速温度循环冲击，解决传统普通高低温箱难以实现定点差异化测试的痛点。
an全芯片多用于银hang卡、门禁卡及物联网终端，由于产品内部空间狭小、芯片接触面积小、空气流通环境差、散热条件有限，芯片表面极易经历快速温升，并且往往需要在高温环境长时间持续工作；同时研发实验室需要采集芯片全温域运行数据用于存档追溯，因此验证an全芯片在快速变温工况下的运行稳定性十分必要。
an全芯片高低温测试客户案例
国内某半导体公司an全芯片测试需求：-40℃～105℃，选用 Lab Companion TS-180 温度冲击试验机与泰瑞达测试机联用，对an全芯片执行快速冷热冲击，支持编辑 12 组不同形式的循环温度程序，高效获取完整、精准的可靠性试验数据。
Lab Companion TS-180 技术参数
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项目
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TS-180
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型号
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TS-180 三箱式温度冲击试验机
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温度范围℃
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-40 ~ +120（50Hz），拓展机型可达 - 60℃~+150℃
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温变速率
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5～25℃/min 线性可调
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温度精度
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±1.0℃，整机可溯源 CNAS 计量校准
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温度显示分辨率
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0.1℃
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温度传感器
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T 型或 K 型热电偶（支持 DUT 试样测温）
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制冷配置
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二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂或 LCO₂辅助冷却
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通讯接口
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Ethernet、IEEE 488、RS232，可对接各类半导体测试平台
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广东宏展 Lab Companion 系列温度冲击试验机，温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。Lab Companion 设备适用于 RF 射频，微波，电子元器件，功率器件，an全芯片、通信芯片等温度可靠性测试，满足芯片特性验证和故障分析的需求。
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