集成电路 IC 卡高低温测试说明：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能。Lab Companion 温度冲击试验机可对接探针台和晶片级集成电路专用自动测试机协同，完成集成电路高低温循环测试、冷热冲击测试、Thermal shock、老化测试等试验。Lab Companion 温度冲击试验机可实现快速升降温循环测试，温度控制精度优异，特别适合大规模集成电路的高低温性能检测。

Lab Companion 集成电路高低温测试客户案例一

上海某客户是一家芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，选用 Lab Companion TS-180 用于集成电路 IC 卡高低温测试。TS-180 采用立式一体化结构，体积精巧；温度测试范围：-60 ℃ ~ +150 ℃；搭载可编程触控控制面板，操作直观便捷。

集成电路 IC 卡高低温通用测试方法： 客户可采用 DUT Mode 试样测温模式开展试验：

1. 将待测 IC 卡与温度传感器安置在测试治具腔体内

2. 操作人员设置所需执行的温度区间、循环次数、高低温驻留时长

3. 启动 TS-180 温度冲击试验机，设备二元复叠式制冷系统独立管控冷热蓄温区，冷热气流分区存储、自动切换冲击；内置温度传感器持续监测腔体内工况温度。设备自带完善过热温度保护系统，出厂预设温度an全限值，操作人员可按需自定义高低温保护控制点，达到极限温度后设备自动停机保护样品。

集成电路 IC 卡温度测试客户案例二

广东本地 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Lab Companion TS-100 温度冲击试验机，温度测试范围：-60 ℃ ~ +150 ℃；适用于实验室内无空压机配套环境的客户，设备一体化集成无需额外气源配套，安装移动便捷。

广东宏展 Lab Companion 系列温度冲击试验机，温度范围 -60 ℃ ~ +150 ℃，整机防静电工业结构设计，搭载二元复叠式风冷制冷系统，不需要 LN₂液氮或 CO₂辅助冷却；温度精度 ±1.0℃，温度显示精度：±0.5℃，计量可溯源 CNAS 校准，整机通过 ISO 9001、CE、RoHS 认证。Lab Companion 设备适用于 RF 射频，微波，电子元器件，功率器件，IC 卡芯片、集成电路等温度可靠性测试，满足芯片特性验证和故障分析的需求。

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