集成電路 IC 卡高低溫測試說明：集成電路 IC 卡在出廠前必須經過環境測試，用來模擬集成電路在不同工作環境中的性能。Lab Companion 溫度沖擊試驗機可對接探針臺和晶片級集成電路專用自動測試機協同，完成集成電路高低溫循環測試、冷熱沖擊測試、Thermal shock、老化測試等試驗。Lab Companion 溫度沖擊試驗機可實現快速升降溫循環測試，溫度控制精度優異，特別適合大規模集成電路的高低溫性能檢測。

Lab Companion 集成電路高低溫測試客戶案例一

上海某客戶是一家芯片生產的半導體廠商，經過技術選型，選用 Lab Companion TS-180 用于集成電路 IC 卡高低溫測試。TS-180 采用立式一體化結構，體積精巧；溫度測試范圍：-60 ℃ ~ +150 ℃；搭載可編程觸控控制面板，操作直觀便捷。

集成電路 IC 卡高低溫通用測試方法： 客戶可采用 DUT Mode 試樣測溫模式開展試驗：

1. 將待測 IC 卡與溫度傳感器安置在測試治具腔體內

2. 操作人員設置所需執行的溫度區間、循環次數、高低溫駐留時長

3. 啟動 TS-180 溫度沖擊試驗機，設備二元復疊式制冷系統獨立管控冷熱蓄溫區，冷熱氣流分區存儲、自動切換沖擊；內置溫度傳感器持續監測腔體內工況溫度。設備自帶完善過熱溫度保護系統，出廠預設溫度an全限值，操作人員可按需自定義高低溫保護控制點，達到極限溫度后設備自動停機保護樣品。

集成電路 IC 卡溫度測試客戶案例二

廣東本地 IC 卡生產企業，經過技術選型，采購 Lab Companion TS-100 溫度沖擊試驗機，溫度測試范圍：-60 ℃ ~ +150 ℃；適用于實驗室內無空壓機配套環境的客戶，設備一體化集成無需額外氣源配套，安裝移動便捷。

廣東宏展 Lab Companion 系列溫度沖擊試驗機，溫度范圍 -60 ℃ ~ +150 ℃，整機防靜電工業結構設計，搭載二元復疊式風冷制冷系統，不需要 LN₂液氮或 CO₂輔助冷卻；溫度精度 ±1.0℃，溫度顯示精度：±0.5℃，計量可溯源 CNAS 校準，整機通過 ISO 9001、CE、RoHS 認證。Lab Companion 設備適用于 RF 射頻，微波，電子元器件，功率器件，IC 卡芯片、集成電路等溫度可靠性測試，滿足芯片特性驗證和故障分析的需求。

若您需要進一步了解 Lab Companion 溫度沖擊試驗機詳細信息或方案討論，請參考以下聯絡方式：

廣東taptap点点手机：

TEL：+86 186-8888-8286（微信同號）